지능형 백색도 측정기 D/O 모드 반복성 ≤0.1 반도체 광원

원래 장소 중국
브랜드 이름 Shandong Shengtai Instrument Co., Ltd
인증 GB/T 3978 ISO 2469
모델 번호 ST001A/B
최소 주문 수량 1
포장 세부 사항 나무 상자
배달 시간 7 - 15 근무일
지불 조건 티/티
공급 능력 10000 세트/년
제품 상세 정보
검파 매개 변수를 밝히기 화물 인도 지시서 방식 측정 구멍 직경 20mm
광원 반도체 광원, 방열 필요 없음, 100,000시간 작동 반복성 ≤ 0.1
환경 임시 5 ~ 40℃ 상대습도 <80%
강조하다

지능형 백색도 측정기 D/O 모드

,

백색도 측정기 반도체 광원

,

가맹점과 함께 식유 테스트 장비

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제품 설명

ST001A/B 지능형 백색 검사기

지능형 백도 검사기 d/o 모드 반복성 ≤0.1 반도체 광원

이 지능형 백색 검사는 우리 회사가 설계하고 개발한 새로운 세대의 지능형 백색 검사기입니다.우수한 성능과 저렴한 비용으로이 도구는 밀가루,amid,그리고 곡물 및 식품 저장소에 첨가물그것은 곡물 가공, 테스트, 화학 산업, 섬유 인쇄 및 염색, 건축 세라믹의 다른 원료 및 제품의 흰색을 결정하기에 적합합니다.

특징:

● 반도체 광원 사용, 최대 100000 시간 의 수명 (교환 및 유지보수 의 번거로움을 제거)

● 표준 모드: 기기 응고 를 이용 한 측정 방법 및 표준.

● 고급 모드: 2-7 개의 표준 빈 보드 (또는 표준 샘플 프레스 케이크) 에 기초하여 기기 측정을 사용자 정의 할 수 있습니다.

● 지능형 수치 처리 알고리즘: 간단한 선형 계산 방법 사용으로 인한 측정 편차가 크고 정확도가 떨어지는 문제를 해결합니다

● 쉽고 편리한 조작: 한 번의 클릭으로 제로 캘리브레이션, 화이트보드의 완전한 디지털 캘리브레이션, 캘리브레이션 매개 변수 자동 저장.

● 고도로 통합 된 하드웨어 설계, 내장 된 운영 체제.

● 생산 현장 검사 요구 사항 을 충족 시키기 위해 완전 히 밀폐 된 설계.

● 빠른 디지털 필터링 알고리즘, 두 초 안에 측정 완료.

주요 기술 매개 변수

전원 공급 AC220V±10% 50Hz
조명 감지 매개 변수 d/o 모드
측정 구멍 지름 20mm
조명원 반도체 광원, 열 분산이 필요없고, 100000시간 작동
반복 가능성 ≤ 0.1
표시 변동 ≤ 0.1
표시 오류 ≤ 0.5
환경 온도 5°C 40°C
상대 습도 < 80%
기기 크기 220*300*390mm
기기 무게 6kg
패키지 크기 440*330*520mm
패키지 무게 8kg의 카튼

지능형 백색도 측정기 D/O 모드 반복성 ≤0.1 반도체 광원

참고:외관 사진, 차원, 부피 및 무게는 참조를 위해만 표시됩니다. 도구에 대한 업데이트가있는 경우 사전 통지없이 약간의 변경이있을 수 있습니다.

 

산둥 첸타이 인스트루먼트 (Shandong Shengtai Instrument Co., Ltd.) 는 당신에게 판매되는 인스트루먼트에 대해 다음과 같은 품질 보증을 제공합니다.

---- 제공된 기기 재료는 새롭고 국가 품질 표준을 충족하며 제조업체의 적합성 인증서를 가지고 있습니다.

---- 제공된 재료와 주요 부품은 기술 문서에 명시된 기술적 요구 사항을 충족합니다.

---- 장비의 전체 품질 보증 기간은 1년입니다 (약해지기 쉬운 부품의 정상적인 마모를 제외합니다).

우리는 보증 기간 동안 발생하는 모든 기기 품질 문제를 무료로 유지보수를 담당합니다.우리는 수리하고 합리적인 수수료를 청구하는 책임이 있습니다..

---- 장비에 대한 부품의 평생 할인 공급, 그리고 전체 기계의 평생 유지 보수 및 수리.

---- 보증 기간 만료 후, 사용자가 유지 보수 및 기술 서비스를 필요로 하는 경우, 우리는 단지 비용 수수료를 청구합니다.

 

구성 목록

- 아니 이름 양 단위 참고:
1 호스트 1 단위  
2 블랙 튜브 1 조각  
3 화이트보드 캘리브레이트 1 조각  
4 파우더 프레스 1 세트  
5 전원 케이블 1 뿌리  
6 사용 설명서 1 알겠습니다  
7 적합성 인증서 보증 카드 1 알겠습니다  

지능형 백색도 측정기 D/O 모드 반복성 ≤0.1 반도체 광원